Метод корекції вихідного сигналу скануючого зондового мікроскопу для дослідження нанооб’ектів

Simple item page
dc.contributor.authorКвасніков, В. П.
dc.contributor.authorКатаєва, М. О.
dc.contributor.authorKvasnikov, V.
dc.contributor.authorKataeva, M.
dc.date.accessioned2023-04-29T11:47:19Z
dc.date.available2023-04-29T11:47:19Z
dc.date.issued2022
dc.description.abstractВ статті розглянуто методи підвищення точності вихідного сигналу скануючого зондового мікроскопу (СЗМ) із урахуванням впливу дестабілізуючих факторів. Запропоновано метод диференціації поєднаних сигналів, який передбачає перетворення піків багатокомпонентного сигналу з метою зниження рівня шуму і мінімізації інших джерел похибок від дестабілізуючих факторів. На основі запропонованого методу було розроблено алгоритм розділення поєднаних сигналів та запропоновано метод розрахунку роздільної здатності сигналу СЗМ. Перевагою розробленого методу є можливість його автоматизації та ефективна реалізація для будь-яких вимірювальних приладів з мікрозондом. Запропоновано спосіб корекції похибок, який є придатним для цифрової автоматизованої обробки сигналів та сприяє підвищенню точності та прецизійності вимірювань за допомогою СЗМ. Recent advances in nanotechnology include the use of measuring devices that can study physical properties at the atomic and molecular levels and store high-density measurement information. It is proved that the most promising measuring instruments in the nanometer range are measuring devices based on scanning probe microscopes (SPM). Based on the analysis of studies, one of the main problems in working with nanoobjects and nanostructures is associated with ultra-low signal levels and the influence of external destabilizing factors. In this regard, the problem of improving existing and developing new methods of processing the measurement signal of SPM with increased accuracy and speed. The article considers the methods of increasing the accuracy of the output signal of the SPM considering the influence of destabilizing factors. A method of differentiation of combined signals has been developed, which involves the conversion of peaks of a multicomponent signal to reduce noise and minimize the impact of other sources of error from destabilizing factors. The advantage of the developed method is the possibility of its automation and efficient implementation for any measuring devices with a microprobe. Based on the proposed method, an algorithm for separating the combined signals was developed and a method for calculating the resolution of the SPM signal was proposed. An error correction method is proposed that is suitable for digital automated signal processing and helps to increase the accuracy and precision of measurements using SPM. Thus, the developed method of differentiation of combined signals allows to effectively adjust the hardware function of SPM to increase the reliability of recognition of combined peaks of signals while determining their intensities.uk_UA
dc.identifier.citationКвасніков, В. П. Метод корекції вихідного сигналу скануючого зондового мікроскопу для дослідження нанооб’ектів / В. П. Квасніков, М. О. Катаєва // Центральноукраїнський науковий вісник. Технічні науки : зб. наук. пр. – Кропивницький : ЦНТУ, 2022. – Вип. 5 (36). – Ч. 2. – С. 121–129.uk_UA
dc.identifier.urihttps://doi.org/10.32515/2664-262X.2022.5(36).2.121-129
dc.identifier.urihttps://dspace.kntu.kr.ua/handle/123456789/12736
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherЦНТУuk_UA
dc.subjectнанотехнологіїuk_UA
dc.subjectнановимірюванняuk_UA
dc.subjectметрологіяuk_UA
dc.subjectметоди та засоби вимірюванняuk_UA
dc.subjectскануючий зондовий мікроскомuk_UA
dc.subjectобробка сигналуuk_UA
dc.subjectnanotechnologiesuk_UA
dc.subjectnano-measurementsuk_UA
dc.subjectmetrologyuk_UA
dc.subjectmethods and means of measurementuk_UA
dc.subjectscanning probe microscopeuk_UA
dc.subjectsignal processinguk_UA
dc.titleМетод корекції вихідного сигналу скануючого зондового мікроскопу для дослідження нанооб’ектівuk_UA
dc.title.alternativeA Method of Correcting the Output Signal of a Scanning Probe Microscope for the Study of Nanoobjectsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle
Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
18.pdf
Size:
334.93 KB
Format:
Adobe Portable Document
Download
License bundle
Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
7.42 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description:
Download

Collections

Центральноукраїнський науковий вісник. Технічні науки. Випуск 5. Частина 2. - 2022